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특허 목록을 담은 표로, 번호, 특허명, 출원자, 국가, 출원일 항목으로 구성되어 있습니다.
번호 특허명 출원자 국가 출원일
10-2476418 전자기 차폐부를 구비한 글러브박스 신채호 한국 2022-12-09
10-2455004 주름 그래핀 기판의 제조 방법 홍성구,프라샨트 한국 2022-10-11
10-2404158 플라즈몬 나노 구조체 제조를 위한 나노팁 인덴테이션 리소그래피 및 이에 의해 제조된 플라즈몬 나노 구조체 신채호,김종우,남상환,김정우,서영덕,김현우 한국 2022-05-26
10-2365983 초박막의 두께 산출 방법 김경중,김태건 한국 2022-02-17
11215450 초박막의 두께 산출 방법 김경중,김태건 미국 2022-01-04
11-2005-001585 이온빔을 이용한 SPM 나노니들 탐침과 CD-SPM 나노니들 탐침의 제조방법 및 그러한 방법에 의해 제조되는 SPM 나노니들탐침과 CD-SPM 나노니들 탐침 박병천,안상정,정기영,송원영,오범환,홍재완 독일 2021-12-30
11087952 변위전달용 선형구조물 및 이를 이용한 1차원 및 3차원 미세 이동 장치 김달현,박병천,신채호 미국 2021-08-10
10-2263564 나노 측정 단위 교정 방법 및 이에 이용되는 표준물질 김경중,곽계영,이승미,김태건,유현웅 한국 2021-06-04
10-2263568 양자 저항 표준을 위한 캡슐화된 구조체 박재성,임경근,채동훈 한국 2021-06-04
10-2094153 MOS 트랜지스터의 고유전율 절연막 형성방법 신채호,문승현 한국 2020-03-23
10-2083308 탐침형 원자 현미경을 이용한 리소그래피 방법 신채호 한국 2020-02-25
10-2083239 이차이온질량분석장비를 활용한 박막 두께 측정 방법 김경중,김태건 한국 2020-02-25
10-2064748 원자간력 현미경 시료와 탐침 사이의 위치조절을 위한 시료 스테이지 시스템 및 그를 이용한 관찰방법 신채호,조복래,박인용 한국 2020-01-06
10-2026665 원자간력 현미경 시료와 탐침 사이의 위치조절을 위한 시료 스테이지 시스템 및 그를 이용한 관찰방법 박인용,신채호,조복래 한국 2019-09-24
10191081 원자간력 현미경의 측정 방법 박병천,신채호,김달현 미국 2019-01-29
10-1917300 실리콘 양자점 정밀제어 및 활성화에 의한 광활성층 및 이의 제조방법 김경중,이성현,김안순,곽계영 한국 2018-11-05
10-1855865 비휘발성 메모리 소자 및 그 제조방법 엄대진,문창연,구자용 한국 2018-05-02
9939461 헤드 일체형 원자간력 현미경 및 이를 포함한 융합 현미경 김달현,박병천,신채호 미국 2018-04-10
10-1787431 변위전달용 선형구조물 및 이를 이용한 1차원 및 3차원 미세 이동 장치 김달현,박병천,신채호 한국 2017-10-12
10-1703039 초격자 구조의 실리콘 결정 및 이를 포함하는 전자 소자 이인호,오영준,이주영,김성현,장기주 한국 2017-01-31
10-1675489 헤드 일체형 원자력간 현미경 및 이를 포함한 융합 현미경 김달현,박병천,유현웅 한국 2016-11-07
9425336 실리콘 양자점에 의한 광활성층 및 이의 제조방법 김경중,장종식,박재희,홍승휘 미국 2016-08-23
10-1607606 원자간력 현미경의 측정 방법 박병천,김달현,신채호 한국 2016-03-24
9009861 융합계측장치 박병천,송운,이주엽,최진호,백승엽,홍재완,송원영,유준,안상정 미국 2015-04-14
10-1489135 메모리 소자 엄대진,문창연,구자용 한국 2015-01-26
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