연구활동
특허
TOP| 번호 | 특허명 | 출원자 | 국가 | 출원일 |
|---|---|---|---|---|
| 10-2447267 | 오염입자의 실시간 복합 측정이 가능한 수직형 플라즈마 처리 장치 | 윤주영,김민중,소종호,최은미,김하영,맹선정 | 한국 | 2022-09-21 |
| 10-2230740 | 인시츄 물성 평가 장치 | 유은성,심섭,김진태,윤주영,정고운,허규용,허훈 | 한국 | 2021-03-16 |
| 10-2229906 | In situ 국소용융풀 가스 개질처리를 통한 내수소취화부품 제조방법 | 백승욱 | 한국 | 2021-03-15 |
| 10-2204536 | 캡슐형 점도측정기, 액상전구체 디개서 및 이들을 포함하는 액상전구체 매니지먼트 시스템 | 윤주영,정고운,허규용,안종기,김진태 | 한국 | 2021-01-13 |
| 10-2204607 | 분산수단을 포함하는 액상전구체 디개서 | 윤주영,강고루,안종기,심섭,정낙관,김진태 | 한국 | 2021-01-13 |
| 10-2204627 | 원심력을 이용한 액상전구체 디개서 | 정낙관,강고루,김진태,윤주영,안종기,심섭 | 한국 | 2021-01-13 |
| 10-2202390 | 가스 처리로부터 개질된 내수소취화 스테인레스 분말결합체 및 이를 위한 스테인레스 분말 | 백승욱 | 한국 | 2021-01-07 |
| 10-2166633 | 노출표면적증대수단을 포함하는 반도체용 액상전구체 디개서 | 정낙관,심섭,강고루,김진태,윤주영,안종기 | 한국 | 2020-10-12 |
| 10-2155569 | OLED용 재료의 장시간 열안정성 평가를 위한 열처리 장치 및 OLED용 재료의 정제 장치 | 윤주영,심섭,김진태,김하영,최은미 | 한국 | 2020-09-08 |
| 10-2147363 | 액상전구체 수명 매니지먼트 시스템 | 심섭,허규용,정고운,김진태,윤주영 | 한국 | 2020-08-18 |
| 10-2134306 | P형 복합체형 열전소재 및 이의 제조방법 | 이규형,신호선 | 한국 | 2020-07-09 |
| 10696548 | 이산화티탄 결정상을 가지는 단일상의 수소저장용 산화물 및 이의 제조방법 | 백승욱,안창호,김정현,박교리,김미경 | 미국 | 2020-06-30 |
| 10-2116854 | 복잡형상 내수소취화 금속부품 제조를 위한 제조장치 | 백승욱 | 한국 | 2020-05-25 |
| 10-2111554 | 전해액 순환을 이용한 아노다이징 자동화 공정 시스템 | 윤주영,김민중,김진태,송제범 | 한국 | 2020-05-11 |
| 10-2041127 | 이산화티탄 결정상을 가지는 단일상의 수소저장용 산화물 및 이의 제조방법 | 안창호,김미경,백승욱,박교리,김정현 | 한국 | 2019-10-31 |
| 10-2005728 | 박막 형성 방법 및 이에 의한 금속 산화 박막 | 안종기,오남근,김진태,윤주영,박인성,강고루 | 한국 | 2019-07-25 |
| 10-1988394 | OLED 재료 및 박막의 인시츄 물성 평가 장치 | 정낙관,안종기,강고루,심섭,송제범,윤주영,김진태,김하영 | 한국 | 2019-06-05 |
| 10-1979290 | 천연가스 열량계 및 이를 이용한 열량 측정 방법 | 이주현,정욱철 | 한국 | 2019-05-10 |
| 10283339 | 입자빔 질량분석기 및 이를 이용한 입자 측정 방법 | 안상정,윤석래,이규찬,박창준,한철수 | 미국 | 2019-05-07 |
| 10-1957661 | 내플라즈마성 코팅부품의 아킹 평가장치 및 평가방법 | 윤주영,송제범,김진태 | 한국 | 2019-03-07 |
| 10-1953379 | 플라즈마 설비용 내구성 부품의 오염입자 평가장비 | 윤주영,김진태,송제범 | 한국 | 2019-02-22 |
| 10-1909959 | 플라즈마 공정 설비용 코팅기재의 부식촉진 장치 및 이를 이용한 신뢰성 시험방법 | 윤주영,송제범,김진태 | 한국 | 2018-10-15 |
| 10-1872899 | 고온 보관 장치 | 윤주영,심섭,김진태 | 한국 | 2018-06-25 |
| 10-1823947 | 나노입자 필름의 제조방법 | 박선화,송재용,박현민,박지혜 | 한국 | 2018-01-25 |
| 10-1663740 | 레이져 산란 입자 분석장치 및 레이저 산란 입자 분석 방법 | 위행섭,이수형,이근우,조원혁 | 한국 | 2016-09-30 |
| 10-1643382 | 고온 보관 장치 | 윤주영,심섭,김진태,정낙관 | 한국 | 2016-07-21 |
| 10-1535747 | 반도체 코팅설비의 오염 진단장치 및 진단방법 | 송제범,윤주영,강상우,김진태 | 한국 | 2015-07-03 |
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