본문으로 바로가기

특허

TOP
특허 목록을 담은 표로, 번호, 특허명, 출원자, 국가, 출원일 항목으로 구성되어 있습니다.
번호 특허명 출원자 국가 출원일
10-2083239 이차이온질량분석장비를 활용한 박막 두께 측정 방법 김경중,김태건 한국 2020-02-25
10-1917300 실리콘 양자점 정밀제어 및 활성화에 의한 광활성층 및 이의 제조방법 김경중,이성현,김안순,곽계영 한국 2018-11-05
9425336 실리콘 양자점에 의한 광활성층 및 이의 제조방법 김경중,장종식,박재희,홍승휘 미국 2016-08-23
QUICK MENU

QUICK MENU 원하시는 서비스를 클릭하세요!

등록된 퀵메뉴가 없습니다.

등록된 배너가 없습니다.