연구장비 공동활용

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원자간력 현미경

Atomic Force Microscope
(Park System, XE7)

AFM 예약의뢰
특징
시료 표면의 거칠기 및 단차 측정에 특화 (4 ㎛ 이하)
최대 측정범위 45 ㎛ × 45 ㎛
비전도성 시료(생체시료 등) 종류에 관계없이 측정 가능
Passive, Active 제진대 사용으로 Noise 발생 억제
이용료
60,000 원/시간 (VAT 별도)
소모품(TIP) 별도 실비정산(기본: 70,000 원/개)
중소기업 20% 할인
문의처
담당자 : 중소기업협력센터 송주현
이메일 : jhssong@kriss.re.kr
전화 : 042-868-5260
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